Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI)

Не считая всемирно известной технологии утечки магнитного потока продольного намагничивания (MFL) интенсивно применяется разработка поперечного намагничивания (TFI), которая является решением препядствия обнаружения продольных трещинок в стене трубы.

В отличие от дефектоскопов с продольным намагничиванием (MFL) дефектоскопы, построенные по технологии TFI, обнаруживают узенькие продольно направленные недостатки, включая трещинкы в продольных сварных швах Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI), продольную внешнюю коррозию, вызванную отслоением покрытия, также такие непредсказуемые и, таким макаром, критические сочетания изъянов, как "продольная риска во вмятине".

Надежное обнаружение продольно нацеленных изъянов может быть обеспечено исключительно в том случае, если намагничивание трубопровода делается в направлении перпендикулярном плоскости расположения изъянов.

Для реализации этого принципа была Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI) разработана магнитная система, которая позволяет намагничивать трубопровод в поперечном по отношению к продольной оси направлении.

Магнитная система содержит несколько секторов, образованных неизменными магнитами и гибкими проволочными щетками. В промежутках меж щетками размещены датчики для измерения магнитной индукции.

Набросок 7 - Принцип поперечного намагничивания трубопровода и регистрации сигналов датчиками типа I (TFI Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI))

На рисунке 7 изображен механизм работы датчиков типа I:

1) в стене трубы создается магнитное поле высочайшей напряженности;

2) силовые полосы магнитного поля будут отклоняться, если на внешней либо внутренней поверхности трубы есть утрата металла;

3) датчики типа I регистрируют изменение индукции магнитного поля вызванное наличием утраты металла либо другой аномалией.

Разработка TFI, также высочайшие Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI) требования к точности определения размеров изъянов востребовали внедрения датчиков сверхвысокого разрешения.

4. Комбинированный магнитный дефектоскоп сверхвысокого разрешения с продольным и поперечным намагничиванием.

Разработка комбинированной магнитной диагностики соединяет внутри себя достоинства технологии, как продольного, так и поперечного намагничивания. Дефектоскопы, построенные по этой технологии (сверхвысокого разрешения), производят намагничивание трубопровода в продольном и Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI) поперечном направлениях. Дефектоскоп способен за один прогон собрать всю информацию о недостатках тела трубы и сварных швов вне зависимости от их ориентации.

Задачей комбинированного магнитного дефектоскопа является обнаружение за один пропуск изъянов нацеленных как в продольном, так и в поперечном направлении. Для этого дефектоскоп обустроен магнитными системами Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI) для поочередного намагничивания трубопровода в продольном и в поперечном направлении. Любая магнитная система содержит неизменные магниты и гибкие проволочные щетки. В промежутках меж щетками размещены датчики для измерения магнитной индукции. Все датчики имеют сверхвысокое разрешение. Это обосновано особенностями комбинированной магнитной диагностики, также высочайшими требованиями к точности определения размеров изъянов Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI).


majkl-o-stremlenii-k-idealu.html
majkop-doklad.html
majnola-freda-brajt.html